仪器设备详细信息
启用日期 次预约 次收藏 好评
  • 仪器名称:少子寿命测试仪
  • 所属单位:亚洲硅业
  • 英文名称:Minority carrier lifetime tester
  • 仪器别名:
  • 规格型号:WCT-120
  • 生产国别:美国
  • 生产厂商:美国SINTON仪器公司
  • 生产日期:2018-12-20 10:20:40
  • 购进日期:2019-01-13 10:22:00
  • 仪器原值:19.56
  • 学科领域:材料科学    电子与通信技术    
  • 仪器类型:分析仪器
  • 购置经费来源:单位自有资金    
  • 获取方式:购置    
  • 购进日期:2019-01-13 10:22:00

仪器设备相关信息

  • 负责人:王海礼
  • 联系电话:15209786220
  • 电子邮箱:
  • 所在实验室:青海省亚硅硅材料重点实验室
  • 检测项目:
  • 通过计量认证:
  • 通过实验室认证:
  • 所在机组:
  • 检定情况:
  • 启用日期:

仪器状态信息

  • 运行状态:正常
  • 新开发功能:
  • 安放地点:亚洲硅业(青海)有限公司实验室
  • 升级改造单位:
  • 开放规定:
  • 计量校准日期:
  • 备注:

仪器服务信息

  • 服务类别:通用
  • 参考收费标准:0
  • 对外服务说明:

功能和应用范围

美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的必备检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开路电压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化。

主要技术指标

1)少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 2)测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 3)电阻率测量范围 0.2–600 (undoped) Ohms/sq. 4)注入范围:10(13次方)-10(16次方)cm-3 5)感测器范围:直径40mm 6)测量样品规格 标准直径: 40–210 mm (或更小尺寸) 7)测试样片厚度范围 10–2000 μm 9)外界环境温度 20°C–25°C 7)通用电源电压 100–240 VAC,60 Hz

主要用途

主要应用:分布监控和优化制造工艺 其它应用: 检测原始硅片的性能 测试过程硅片的重金属污染状况 评价表面钝化和发射极扩散掺杂的好坏 用得到的类似IV的开压曲线来评价生产过程中由生产环节造成的漏电。

仪器图册

已预约案例

用户评价